En este estudio, se investigó comparativamente la capa de óxido de superficies de aluminio técnico 6xxx, tanto decapadas como pasivadas, mediante microscopía electrónica de transmisión (TEM), espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (AES, XPS), esta última en dos modos de operación diferentes, modo estándar y modo de ángulo resuelto. Además, se utilizaron microscopía confocal y corte con haz de iones enfocados para estudios estructurales de las superficies y para la preparación de muestras. Los resultados ilustran en detalle las fortalezas y debilidades de cada técnica de medición. TEM ofrece una forma directa de cuantificar de manera confiable el grosor de la capa de óxido, que está en el rango de 5 nm, sin embargo, en un área lateralmente restringida de la superficie. En comparación, para AES, la destructividad del haz de electrones no permitió obtener resultados comparables para la determinación del grosor. Se demostró que XPS era el método más confiable para cuantificar de manera reproducible el grosor promedio de óxido. Al evaluar los datos de XPS en ángulo resuelto, se pudo obtener información adicional sobre la distribución de profundidad promedio de los elementos individuales en la superficie. Los hallazgos obtenidos en este estudio se utilizaron con éxito para investigar el aumento del grosor de óxido de aluminio en muestras técnicas durante una prueba de envejecimiento de 12 meses bajo condiciones de almacenamiento estándar.