Se estudiaron la composición, estructura, propiedades y comportamiento de deformación durante la indentación de recubrimientos heterofásicos en capas graduales de un sistema Ti-Al-Si-Cu-N utilizando técnicas de microscopía electrónica de barrido, microscopía de transmisión y medición de dureza. Los resultados mostraron la alteración de las características del estado estructural: disminución de los tamaños de cristal y del parámetro de la red cristalina, y aumento de la curvatura-torsión de la red a lo largo del grosor del recubrimiento, que variaba dependiendo de la composición elemental y las condiciones de síntesis. El trabajo también estudió el comportamiento de fractura del recubrimiento y evaluó la deformación plástica macroscópica de sus capas separadas. Se estableció que cerca de la punta del indentor, la estructura nanocristalina experimentó la formación de áreas de fractura localizadas de tamaño nanométrico que estaban conectadas por múltiples grietas ramificadas. Se demostró que la deformación de las capas nanocristalinas y submicrocristalinas puede superar decenas de por ciento, y más en magnitud, especialmente con el aumento de la distancia desde la punta de indentación en el caso de una capa con estructura columnar. Se estudiaron las características de la microestructura de diferentes capas de recubrimiento en la zona de indentación. Se encontró que en la zona de indentación bajo la punta del indentor, la deformación de capas con estructuras inicialmente diferentes llevó a la igualación de las características de su estado estructural y a la similitud de una microestructura defectuosa a nivel nanométrico.