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Microestructuras y Resistividad Eléctrica de Juntas de Aluminio-Cobre

Autores: Guo, Jinchang; Li, Chunkai; Bian, Jianxiao; Zhang, Jianrui; Geng, Baolong

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2023

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Acceso abierto

Artículo científico


Categoría

Ciencias de los Materiales

Subcategoría

Materiales estructurales

Palabras clave

Aluminio
Cobre
Silicio
Microestructuras
Compuesto intermetálico
Resistividad eléctrica

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 4

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Utilizando la soldadura por arco metálico de gas con electrodos dobles pulsados, se unen alambres de aluminio a placas de cobre con rellenos de diferentes fracciones de silicio. Se forman dos capas de diferentes microestructuras cerca de la interfaz Al-Cu: una consiste en una microestructura hipoeutéctica de alfa (Al) + Al2Cu, y la otra consiste en un compuesto intermetálico (IMC) de Al2Cu. Aumentar la entrada de calor provoca un aumento en los grosores de la capa de IMC y de la capa de la microestructura hipoeutéctica. El Si suprime el crecimiento de la capa de IMC y ayuda al crecimiento de la capa de la microestructura hipoeutéctica. Se analizan los efectos de las microestructuras de la interfaz y las composiciones químicas sobre la resistividad eléctrica de las uniones. La resistividad eléctrica de las uniones aumenta con el incremento en los grosores de la capa de IMC y de la capa de la microestructura hipoeutéctica. Se utiliza la ley de mezclas para calcular la resistividad eléctrica de las uniones, que está de acuerdo con los resultados experimentales.

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