En este estudio, se prepararon los compuestos de óxido de grafeno-cobre utilizando una baja temperatura de sinterización para investigar el efecto de varios tamaños de malla de GO en los compuestos Cu-GO. Se realizaron microscopía electrónica de barrido (SEM), difracción de rayos X (XRD) y Raman para elaborar la microestructura, el patrón de difracción y el desorden en los polvos, así como en los compuestos a granel. También se llevó a cabo un análisis de microscopía electrónica de transmisión (TEM) para estudiar más a fondo el análisis microestructural de los compuestos a nivel nano. Al cambiar los tamaños de malla de GO de un nivel más bajo a uno más alto, la resistencia a la tracción y la dureza de los compuestos Cu-GO se mejoraron significativamente debido a una mejor mezcla de GO con un tamaño de malla más alto. También se examinó en detalle un análisis fractográfico para investigar el efecto de varios tamaños de malla de GO en Cu-GO.