Resumen

La microscopa de fuerza atmica (AFM) es una tecnologa de escaneado de alta resolucin, y los datos medidos son un conjunto de curvas de fuerza, que pueden ajustarse con un modelo de curva a trozos y analizarse posteriormente. La mayora de los mtodos suelen seguir una estrategia de dos pasos: en primer lugar, las discontinuidades (o puntos de ruptura) se detectan como los lmites de dos piezas consecutivas; en segundo lugar, cada pieza separada por las discontinuidades se ajusta con un modelo paramtrico, como el conocido modelo de cadena en forma de gusano (WLC). El inconveniente de este mtodo es que la precisin del ajuste (el segundo paso) depende en gran medida de la precisin de la deteccin de discontinuidades (el primer paso). En este estudio, se propone un modelo de representacin dispersa para detectar conjuntamente las discontinuidades y ajustar las curvas. El modelo propuesto ajusta la curva con una combinacin lineal de funciones paramtricas, y la estimacin de los parmetros del modelo puede formularse como un problema de optimizacin con una restriccin -norma. El rendimiento del modelo propuesto se demuestra mediante el ajuste de curvas de fuerza de retraccin de AFM con el modelo WLC. Los resultados muestran que el mtodo propuesto puede segmentar la curva de fuerza y estimar el parmetro conjuntamente con mejor precisin, y por lo tanto, es prometedor para el procesamiento automtico de la curva de fuerza AFM.

• Materias:Algoritmos (Matemáticas) Algebra Ingeniería Lógica matemática Matemáticas
• Subjects:Agorithms (Math) Algebra Engineering Mathematical logic mathematics
• Palabras claves:microscopía de fuerza atómica; tecnología de barrido de alta resolución; curvas de fuerza; modelo de curva a trozos; detección de discontinuidades; modelo de representación dispersa
• Keywords:atomic force microscopy; high-resolution scanning technology; force curves; piecewise curve model; discontinuity detection; sparse representation model