La espectrometría de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva (EDXRF) es un análisis no destructivo, rápido, multielemento, muy preciso y respetuoso con el medio ambiente en comparación con otros métodos de detección elemental. Por lo tanto, la espectrometría EDXRF es aplicable para el control de calidad de la producción, la supervisión del entorno ecológico, la prospección geológica, la inspección de alimentos y el análisis del patrimonio, entre otros. En este estudio se diseña una plataforma de hardware para el espectrómetro EDXRF basada en el análisis teórico de los rayos X de energía dispersiva. La plataforma incluye un subsistema de alimentación, un subsistema óptico, un subsistema de control y un ordenador personal. A continuación, se desarrolla un método de análisis del espectro de fluorescencia para obtener la categoría y el contenido de elementos en una muestra. Este método incluye análisis cualitativos y cuantitativos. Por último, se realiza una serie de experimentos. Los resultados muestran que la precisión del método de medición propuesto es inferior al 8%, mientras que su repetibilidad es inferior al 2%.
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