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Analysis of Power Transfer Efficiency of Standard Integrated Circuit Immunity Test MethodsAnálisis de la eficacia de la transferencia de potencia de los métodos de prueba de inmunidad de los circuitos integrados estándar

Resumen

Los métodos de inyección directa de potencia (DPI) y de inyección de corriente masiva (BCI) se definen en las normas IEC 62132-3 e IEC 62132-4 como el método de prueba de inmunidad electromagnética de los circuitos integrados (CI). La potencia de avance medida en el generador de ruido de RF cuando el CI funciona mal se utiliza como medida del nivel de inmunidad del CI. Sin embargo, la potencia real que causa el fallo en los CI es diferente de la potencia directa medida en la fuente de ruido. La eficacia de la transferencia de potencia se utiliza como medida de la pérdida de potencia de la ruta de inyección de ruido. En este trabajo, se obtienen las eficiencias de transferencia de potencia de los métodos DPI y BCI y se validan experimentalmente con la configuración de prueba de inmunidad de un CI divisor de reloj. La eficiencia de transferencia de potencia varía significativamente en el rango de frecuencias en función del método de prueba utilizado y de la impedancia de entrada del CI. Para el rango de frecuencias de 15 kHz a 1 GHz, la eficiencia de transferencia de potencia de la prueba BCI fue constantemente superior a la de la prueba DPI. En la prueba DPI, la eficiencia de transferencia de potencia es particularmente baja en el rango de frecuencia de prueba más bajo, hasta 10 MHz. A la hora de realizar las pruebas de inmunidad de CI siguiendo las normas, hay que tener en cuenta estas características de los métodos de prueba.

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