Biblioteca93.141 documentos en línea

Artículo

XRD Peak Profile Analysis of SiC Reinforced Al2O3 Ceramic Composite Synthesized by Electrical Resistance Heating and Microwave Sintering: A ComparisonAnálisis del perfil de picos de DRX del compuesto cerámico de Al2O3 reforzado con SiC sintetizado mediante calentamiento por resistencia eléctrica y sinterización por microondas: Una comparación

Resumen

El compuesto cerámico de Al2O3 con 10 % en peso de SiC se sintetiza a 1500°C mediante sinterización por resistencia eléctrica con un tiempo de mantenimiento de 5 horas y métodos de sinterización por microondas con un tiempo de mantenimiento de 15 minutos. Las muestras generadas por los dos métodos se caracterizan mediante difracción de rayos X en polvo y microscopía electrónica de barrido de emisión de campo (FESEM). Los experimentos realizados con ambas muestras mostraron que la existencia de las fases α-Al2O3 y β-SiC en ambas muestras fue verificada por los hallazgos del patrón de DRX en ambas muestras. El estudio de la microestructura ilustra que las partículas de la matriz de Al2O3 tienen forma esférica y su tamaño medio de partícula de la matriz es de 67 ± 5 nm para la muestra sinterizada por resistencia eléctrica y de 38 ± 5 nm para la muestra sinterizada por microondas. La deformación de la red y el tamaño de los cristalitos de la matriz de Al2O3 se midieron mediante los métodos de Williamson-Hall (W-H), que se lograron mediante el uso de la ampliación de los picos de DRX, basados en un patrón de difracción. Se utilizaron tres modelos W-H modificados para calcular otros parámetros, como la deformación (ε) y la tensión (σ), así como la densidad de energía (u). Estos modelos fueron el modelo de deformación uniforme (UDM), el modelo de densidad de energía de deformación uniforme (UDEDM) y el modelo de tensión de deformación uniforme (UDSM). Los tamaños medios de los cristalitos de α-Al2O3 obtenidos a partir de estos tres modelos de los métodos de Williamson-Hall (W-H) y del análisis FESEM están correlacionados y se encuentran muy próximos entre sí. En los tres modelos de la técnica W-H, el examen del perfil del pico de difracción de rayos X del compuesto cerámico de Al2O3/10 wt. de SiC sinterizado por calentamiento por resistencia eléctrica y por microondas revela que la muestra sinterizada por microondas tiene un tamaño de cristalito más fino con menos deformación.

Cómo citar el documento

Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.

Este contenido no est� disponible para su tipo de suscripci�n

Información del documento

  • Titulo:XRD Peak Profile Analysis of SiC Reinforced Al2O3 Ceramic Composite Synthesized by Electrical Resistance Heating and Microwave Sintering: A Comparison
  • Autor:Madhan, Mohankumar; S., Praveen Kumar; B., Guruprasad; Sreekanth, Manavalla; Joshua Stephen Chellakumar, Isaac JoshuaRamesh Lalvani; P. L., Somasundaram; P., Tamilarasu; Prakash Singh, Tanwar
  • Tipo:Artículo
  • Año:2021
  • Idioma:Inglés
  • Editor:Hindawi
  • Materias:Análisis de suelos Hormigón Construcciones de hormigón Asfalto
  • Descarga:0