Resumen

El sistema de microscopio electrnico de barrido/espectrmetro de dispersin de energa de rayos X (SEM/EDS) se aplica ampliamente a los minerales de tierras raras (REM) para describir cualitativamente su mineraloga y determinar cuantitativamente su composicin. La realizacin de anlisis estadsticos multivariantes en el conjunto de datos brutos de EDS puede mejorar la eficiencia y la precisin de la identificacin de fases. En este trabajo, el anlisis de componentes principales (PCA) y los algoritmos de separacin ciega de fuentes (BSS) se realizaron sobre un mapa EDS de una muestra REM, ayudando a conseguir un anlisis eficiente del mapa de fases. El PCA desdenotiz significativamente el mapa de fase y se utiliz como paso previo al siguiente BSS. El BSS separ las seales EDS mezcladas en un conjunto de componentes fsicamente interpretables, aportando comodidad a la separacin e identificacin de fases. Mediante la comparacin entre los algoritmos de anlisis de componentes independientes (ICA) y de factorizacin de matrices no negativas (NMF), se confirm que el NMF era ms adecuado para el anlisis de mapeo EDS.

• Materias:Modelo esférico Aleaciones Efecto de amortiguación Membranas bioabsorbibles Adhesión de Nanopartículas
• Subjects:Spherical model Alloys Buffering effect Bioabsorbable membranes Nanoparticle adhesion
• Palabras claves:Microscopio electrónico de barrido; Espectrómetro de dispersión de energía de rayos X; SEM/EDS; Minerales de tierras raras; Análisis estadístico multivariante; Análisis de componentes principales
• Keywords:Scanning electron microscope; X-ray energy dispersive spectrometer; SEM/EDS; Rare earth minerals; Multivariate statistical analysis; Principal component analysis