Hemos estudiado las densidades de portadores n de dispositivos de grafeno epitaxial multicapa y monocapa en un amplio intervalo de temperaturas T. Se observa que, en el régimen de altas temperaturas (típicamente T ≥ 200 K), ln(n) muestra una dependencia lineal de 1/T, mostrando un comportamiento activado. Tales resultados arrojan energías de activación ΔE para el atrapamiento de carga en grafeno epitaxial que oscilan entre 196 meV y 34 meV. Se observa que ΔE disminuye al aumentar la movilidad. Los experimentos de recocido al vacío sugieren que tanto los adsorbatos en el EG como la interfaz SiC/grafeno desempeñan un papel en el atrapamiento de carga en los dispositivos EG.
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