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En este trabajo mostramos un sistema basado en la medida de la resistividad de muestras de fundición gris por el método de Van der Pauw para calcular el contenido de silicio en las muestras. Se han realizado 25 ensayos, estudiando las características resistivas y metalográficas de las muestras. Esto ha demostrado que es posible obtener, por este método, el contenido de silicio en fundición plana con bajo contenido de elementos de aleación, también el contenido de cromo en fundiciones en serie donde la tasa de silicio permanece constante.
Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.
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