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Effect of Temperature and Humidity on the Degradation Rate of Multicrystalline Silicon Photovoltaic ModuleEfecto de la temperatura y la humedad en la tasa de degradación de los módulos fotovoltaicos de silicio policristalino

Resumen

En un módulo fotovoltaico, la humedad relativa (rh) de un encapsulante frontal es diferente de la de un encapsulante posterior (rhback). En este estudio, se investigó la humedad efectiva (rheff) en un módulo FV para estudiar los efectos de la variación de la humedad en la tasa de degradación (RD). rheff representa la humedad uniforme en un módulo FV cuando se expone a determinadas condiciones de calor húmedo. Se realizaron cinco tipos de ensayos acelerados para deducir la relación entre rheff y rhback. rheff mostró una relación lineal con rhback a temperatura constante. Se utilizaron dos tipos de modelos, a saber, los modelos Eyring y Peck, para predecir la RD de los módulos FV, y se compararon sus resultados. La RD de los módulos FV se activó térmicamente a 0,49 eV. Además, se determinó la temperatura y el historial de rheff de los módulos FV durante un año en dos lugares: Miami (FL, EE.UU.) y Phoenix (AZ, EE.UU.). Los valores acumulados de RD basados en la temperatura y el rheff de los módulos se calcularon sumando las cantidades de degradación horarias a lo largo del historial temporal.

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  • Formato:pdf
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