Resumen

Hemos demostrado los efectos de refracción negativa de la luz que se propaga en cristales fotónicos de silicio (PhCs) bidimensionales de red cuadrada y hexagonal. Se utilizó el método de expansión de ondas planas para resolver los problemas complejos de valores propios, así como para hallar las curvas de dispersión y el contorno de igual frecuencia (EFC). El método de diferencias finitas en el dominio del tiempo (FDTD) se utilizó para simular y visualizar la propagación y dispersión de ondas electromagnéticas en los PhC. Se presentan análisis teóricos y simulaciones numéricas. Se han verificado y comparado dos tipos diferentes de refracciones negativas, a saber, la refracción negativa en todos los ángulos (AANR) sin índice negativo y la refracción negativa con índice negativo efectivo.

• Materias:Energía solar Fotoquímica Fotocatálisis Nanoestructuras Biofotónica
• Subjects:Solar energy Photochemistry Photocatalysis Nanostructures Biophotonics
• Palabras claves:refracción negativa, método de expansión de ondas planas, problemas complejos de valores propios, índice negativo efectivo, propagación de ondas electromagnéticas, efectos de refracción negativa, phcs, análisis teóricos, tiempo de diferencia, diferentes tipos
• Keywords:negative refraction, plane wave expansion method, complex eigenvalue problems, effective negative index, electromagnetic wave propagation, negative refraction effects, phcs, theoretical analyses, difference time, different kinds