Resumen

Se ha presentado la evaluación de la degradación de un dispositivo lineal COTS de carga acoplada (CCD) inducida por el daño de la radiación de dosis ionizante total (TID). Los experimentos de radiación se llevaron a cabo en una fuente de rayos γ de 60Co. Los parámetros del CCD lineal de DALSA se midieron en los sistemas de prueba CCD como el estándar EMVA1288 antes y después de la radiación. Se analizaron la corriente oscura, la no uniformidad de la señal oscura (DSNU), la no uniformidad de la fotorespuesta (PRNU), la salida de saturación, la capacidad de pozo lleno (FWC), la eficiencia cuántica (QE) y la responsividad frente a la TID. El comportamiento del CCD ensayado había mostrado una notable degradación tras la radiación. También se analizaron los mecanismos de degradación del CCD inducidos por el daño del TID.

• Materias:Biotecnología Nanotecnología Redes de sensores Sistema de sensores Tecnología de sensores
• Subjects:Biotechnology Nanotechnology Sensor networks Sensor system Sensor technology
• Palabras claves:ccd, sistemas de ensayo ccd, carga lineal cots, falta de uniformidad de la señal oscura, falta de uniformidad de la fotorespuesta, tid, radiación, norma emva1288, daños tid, mecanismos de degradación
• Keywords:ccd, ccd test systems, cots linear charge, dark signal nonuniformity, photo response nonuniformity, tid, radiation, emva1288 standard, tid damage, degradation mechanisms