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Artículo

Wavelet-Based Feature Extraction in Fault Diagnosis for Biquad High-Pass Filter CircuitExtracción de características basada en ondículas para el diagnóstico de fallos en un circuito de filtro paso alto bicíclico

Resumen

El diagnóstico de fallos en circuitos analógicos se ha convertido en un factor importante para mejorar la fiabilidad de los circuitos integrados debido a su carácter insustituible en los circuitos integrados modernos. De hecho, el diagnóstico de fallos basado en algoritmos inteligentes se ha convertido en un tema de investigación muy popular, ya que la extracción y selección eficiente de características es una tarea crítica e intrincada en el diagnóstico de fallos analógicos. Además, es extremadamente importante proponer algunas directrices generales para la extracción y selección óptimas de características. En este trabajo, basándonos en el análisis wavelet, estudiaremos los problemas de selección de wavelets madre, número de niveles de descomposición y selección de coeficientes candidatos utilizando un circuito de filtro biquad de cuatro amplificadores. Tras realizar varios experimentos comparativos, se derivan algunas directrices generales para la extracción de características para este tipo de diagnóstico de fallos en circuitos analógicos.

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