Resumen

En este trabajo se presentan los resultados de las investigaciones sobre la estructura de los nanorods de V2O5 obtenidos a partir de películas finas y polvos preparados por el método sol-gel. Para examinar la mejor temperatura de cristalización de los nanorods, las películas finas depositadas por el método de recubrimiento por rotación sobre sustratos de vidrio de cuarzo o silicio y los polvos de xerogel a granel se recocieron a diversas temperaturas que oscilaban entre 100°C y 600°C. La estructura de las muestras se caracterizó por el método de difracción de rayos X (XRD) y el método sol-gel. La estructura de las muestras se caracterizó por difracción de rayos X (DRX), microscopio electrónico de barrido (SEM), calorimetría diferencial de barrido (DSC), análisis termogravimétrico (TGA) y espectroscopia de masas (MS). La estructura en forma de varilla del V2O5 se obtuvo a 600°C sobre sustratos de vidrio de cuarzo y de silicio, así como a partir del xerogel a granel. Se analizan brevemente el proceso de crecimiento y el efecto del tratamiento de recocido en la nanoestructura.

• Materias:Biotecnología Análisis electroquímico Nanotecnología Bioingeniería Nanoestructuras Nanocompuestos
• Subjects:Biotechnology Electrochemical analysis Nanotechnology Bioengineering Nanostructures Nanocomposites
• Palabras claves:vidrio de cuarzo, sustratos de silicio, películas delgadas, polvos de xerogel a granel, método de difracción de rayos, nanorods de v2o5, temperatura óptima, xerogel a granel, método de recubrimiento, microscopio electrónico
• Keywords:quartz glass, silicon substrates, thin films, bulk xerogel powders, ray diffraction method, v2o5 nanorods, best temperature, bulk xerogel, coating method, electron microscope