Biblioteca93.141 documentos en línea

Artículo

Micro Surface Defect Detection Method for Silicon Steel Strip Based on Saliency Convex Active Contour ModelMétodo de detección de microdefectos superficiales en bandas de acero al silicio basado en el modelo de contorno activo convexo saliencial

Resumen

La detección precisa de defectos superficiales es una sección indispensable en el sistema de inspección de superficies de acero. Para detectar el microdefecto superficial de la banda de acero al silicio, se propone un nuevo método de detección basado en el modelo de contorno activo convexo de saliencia. En el método propuesto, la extracción de saliencia visual se emplea para suprimir el fondo desordenado con el fin de resaltar los objetos potenciales. El mapa de saliencia extraído se explota como una característica, que se fusiona en una función de minimización de energía convexa de contorno activo local. Mientras tanto, se introduce un algoritmo de minimización numérica para separar los microdefectos superficiales del fondo desordenado. Los resultados experimentales demuestran que el método propuesto presenta un buen rendimiento en la detección de microdefectos superficiales, incluidos los defectos puntuales y los defectos en fosas de acero. Incluso en un fondo desordenado, el método propuesto detecta casi todos los microdefectos sin ningún objeto falso.

  • Tipo de documento:
  • Formato:pdf
  • Idioma:Inglés
  • Tamaño: Kb

Cómo citar el documento

Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.

Este contenido no est� disponible para su tipo de suscripci�n

Información del documento