Resumen

Las medidas de fase obtenidas por interferometra de alta coherencia estn restringidas por la ambigedad 2, a diferencias de altura menores que /2. Otra restriccin en la mayora de los sistemas interferomtricos es para enfocar el sistema en el objeto medido. Presentamos dos mtodos que superan estas restricciones. En el primer mtodo, diferentes segmentos de un frente de onda medido se propagan digitalmente y se enfocan localmente despus de la medicin. Las distancias divergentes, por las que se propagan los diversos segmentos del frente de onda para conseguir una imagen enfocada, proporcionan informacin suficiente para resolver la 2 ambigedad. El segundo mtodo emplea un interferograma obtenido por un espectro constituido por un pequeo nmero de longitudes de onda. La magnitud de las modulaciones de los interferogramas se utiliza para resolver la ambigedad 2. Estos mtodos de propagacin del frente de onda permiten varias aplicaciones, como el enfoque y la resolucin de la ambigedad 2, como se describe en el artculo.

• Materias:Electrodos Nanocompuestos Nanomanipulación
• Subjects:Electrodes Nanocomposites Nanomanipulation
• Palabras claves:Medidas de fase; Interferometría de alta coherencia; Restricciones; Propagación del frente de onda; 2 ambigüedad; Interferograma
• Keywords:Phase measurements; High-coherence interferometry; Restrictions; Wavefront propagation; 2 ambiguity; Interferogram