Se prepararon películas delgadas de epoxi/silicona cargadas con N-CNT mediante un método de sol-gel y se depositaron sobre sustratos de vidrio ITO a temperatura ambiente. Las propiedades de las muestras monocapa cargadas (0,00, 0,07, 0,1 y 0,2% en peso de N-CNT) se analizaron mediante espectroscopia UV-visible. La transmitancia de las películas finas sin carga es del 88%, y la transmitancia media de las películas finas cargadas es de entre el 42% y el 67% en el rango visible. Las propiedades ópticas se estudiaron a partir de espectroscopia UV-visible para examinar el espectro de transmisión, el hueco óptico, el hueco óptico verificado por Tauc y la energía de Urbach, basándose en el método envolvente propuesto por Swanepoel (1983). Los resultados indican que el hueco óptico ajustado de la película presenta una transición óptica directa con un hueco óptico de 3,61 eV para las películas finas sin carga y de 3,55 a 3,19 eV para las películas finas con carga en función de la tasa de carga. El hueco óptico se adapta adecuadamente al modelo de transición directa propuesto por Tauc et al. (1966); su valor fue de 3,6 eV para las películas finas sin carga y de 3,38 a 3,1 eV para las películas finas con carga; a continuación, determinamos la energía de Urbach que es inversamente variable con el hueco óptico, donde la energía de Urbach es de 0,19 eV para las películas finas sin carga y varía de 0,43 a 1,33 eV para las películas finas con carga con el aumento de la tasa de N-CNT. Por último, las películas nanocompuestas de N-CNT de epoxi/silicona pueden desarrollarse como materiales conductores de la electricidad con características ópticas específicas, lo que ofrece la posibilidad de utilizarlos en aplicaciones electroópticas.
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