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Optimization of s-Polarization Sensitivity in Apertureless Near-Field Optical MicroscopyOptimización de la sensibilidad a la polarización s en microscopía óptica de campo cercano sin abertura

Resumen

En la microscopía de campo cercano sin abertura existe la creencia generalizada de que la llamada configuración de polarización p, en la que la luz incidente se polariza paralelamente al eje de la sonda, es ventajosa frente a su homóloga, la configuración de polarización s, en la que la luz incidente se polariza perpendicularmente al eje de la sonda. Si bien esto es cierto para la mayoría de las muestras en condiciones experimentales comunes de campo cercano, hay muestras que responden mejor a la configuración de polarización s debido a sus orientaciones. De hecho, se han publicado varios informes sobre este tipo de muestras. Esto nos lleva a un requisito importante: el montaje experimental de campo cercano debe estar equipado con la sensibilidad adecuada para las mediciones con la configuración de polarización s. Esto requiere no sólo la creación de una iluminación s-polarizada efectiva en la sonda de campo cercano, sino también un realce adecuado de la luz s-polarizada por la sonda. En este trabajo, hemos examinado la sensibilidad de mejora de la polarización s de las sondas de campo cercano midiendo y evaluando las imágenes de dispersión Rayleigh de campo cercano construidas por una variedad de sondas. Hemos encontrado que la sensibilidad de mejora de la polarización s depende fuertemente de la nitidez del ápice de las sondas de campo cercano. Hemos discutido el valor eficiente de la nitidez de la sonda considerando un equilibrio entre la mejora y la resolución espacial, ambos requisitos esenciales de la microscopía de campo cercano sin apertura.

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