Resumen

Se ha investigado la pasividad y el comportamiento semiconductor de un acero inoxidable sin nitrógeno (HNSS) en H2SO4 0,05 mol/L y NaCl 0,5 mol/L. Los resultados indicaron que el HNSS ofrecía una excelente resistencia a la corrosión por picadura en ambientes corrosivos. Se observaron tres valores de potencial de corrosión en la respuesta de polarización potenciodinámica, indicando la existencia de un sistema inestable. Los gráficos de corriente transitoria y de Mott-Schottky demostraron que la estabilidad de las películas pasivas disminuía con el aumento de los potenciales aplicados. Los resultados de la espectrometría de fotoelectrones de rayos X de ángulo resuelto revelaron que los componentes primarios de las películas pasivas formadas en una solución de 0,05 mol/L de H2SO4 0,5 mol/L de NaCl estaban compuestos por óxidos de hierro, óxidos de manganeso, Cr2O3 y Cr(OH)3. Mientras tanto, se indicaba que los óxidos de molibdeno no existían en la capa de óxido, pero los iones de cloruro estaban presentes en las películas pasivas.

• Materias:Energía nuclear Dinámica molecular Metales Electrodos Acero Acero inoxidable
• Subjects:Nuclear energy Molecular dynamics Metals Electrodes Steel Stainless steel
• Palabras claves:película pasiva, acero inoxidable libre, resultados de la espectrometría de fotoelectrones, mol, respuesta de polarización potenciodinámica, óxido de molibdeno, corriente transitoria, h2so4, alto nitrógeno, capa de óxido
• Keywords:passive film, free stainless steel, photoelectron spectrometric results, mol, potentiodynamic polarization response, molybdenum oxide, current transient, h2so4, high nitrogen, oxide layer