Resumen

Presentamos un marco de postprocesado de imgenes para microscopios de efecto tnel (STM) con el fin de reducir las fuertes oscilaciones espurias y el ruido de lnea de barrido a velocidades de barrido rpidas y preservar las caractersticas, permitiendo un aumento de un orden de magnitud en la velocidad de barrido sin actualizar el hardware. El mtodo propuesto consta de dos pasos para imgenes a gran escala y cuatro pasos para imgenes a escala atmica. Para las imgenes a gran escala, primero aplicamos para cada lnea un mtodo de registro de imgenes para alinear los escaneados hacia delante y hacia atrs de la misma lnea. En el segundo paso aplicamos un modelo de banda elstica que se resuelve mediante un novedoso algoritmo de filtrado adaptativo e iterativo restringido (CIAFA). Los resultados numricos sobre la medicin de la superficie de cobre(111) indican que las imgenes procesadas son comparables en precisin a los datos obtenidos con una velocidad de barrido lenta, pero estn libres del error de deriva de barrido que suele observarse en los datos de barrido lento. Para las imgenes a escala atmica, se requiere un primer paso adicional para eliminar lnea a lnea las fuertes fluctuaciones de fondo y un cuarto paso de sustitucin de la imagen postprocesada por su mapa de clasificacin como imagen final de resolucin atmica. La imagen resultante restaura la imagen reticular que es casi indetectable en los datos originales de barrido rpido.

• Materias:Electrodos Nanocompuestos Nanomanipulación
• Subjects:Electrodes Nanocomposites Nanomanipulation
• Palabras claves:Marco de postprocesamiento de imágenes; Microscopio de efecto túnel; Velocidad de barrido; Oscilaciones espurias; Ruido en la línea de barrido; Imágenes a escala atómica
• Keywords:Image postprocessing framework; Scanning Tunneling Microscope; Scan rate; Spurious oscillations; Scan line noise; Atomic scale images