En este estudio, se utilizó la técnica de recubrimiento para preparar capas delgadas de óxido de estaño dopado con níquel y aluminio (SnO2: Ni; Al). El objetivo de este estudio es explorar la influencia del dopante aluminio (Al) en las propiedades estructurales, ópticas y eléctricas de las películas elaboradas. Los estudios de difracción de rayos X (DRX) descubrieron que todas las películas depositadas (SnO2 dopado con Ni y dopado con Al-Ni) eran policristalinas con estructura tetragonal (cuadrática) y presentaban orientación preferente [110]. Las mediciones ópticas pusieron de manifiesto que todas las películas preparadas presentaban una buena transparencia. La transmitancia de las películas delgadas de SnO2 dopadas con Ni-Al en las regiones visible e infrarroja cercana variaba entre el 80
y el 90%; esto dependía de la concentración de dopante. La brecha de banda se determinó mediante la ecuación relacionada con el coeficiente de absorción. Se dedujo que los valores de la brecha de banda óptica de las películas delgadas disminuían gradualmente de 4,084 eV a 3,991 eV, como efecto del contenido de Al. Además, se concluyó que los valores de espesor de las películas pasan de 571,374 nm a 694,036 nm como efecto del contenido de Al. Además, el coeficiente de extinción disminuye con la longitud de onda en la región UV y luego varía ligeramente hacia longitudes de onda más largas. Además, se determinó la resistividad eléctrica utilizando la sonda de cuatro puntos; se determinó que la resistividad eléctrica disminuye de 1,35×103Ω-cm a 0,14×103Ω-cm con el aumento de la concentración de aluminio de 0 at. % a 7 at. %. Las películas elaboradas de SnO2 codopado con Ni y Al presentes eran altamente transparentes; por lo tanto, estas capas delgadas parecen prometedoras en el uso de la capa de ventana en células solares fotovoltaicas.
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