Resumen

En este artículo se describe el depósito de películas delgadas de Sb2Te3 sobre sustratos de vidrio sodocálcico mediante la coovaporación de Sb y Te. Las películas delgadas de Sb2Te3 se caracterizaron mediante difracción de rayos X (DRX), fluorescencia de rayos X (FRX), microscopía de fuerza atómica (MFA), espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS), medidas de conductividad eléctrica y medidas Hall. El comportamiento anómalo del transporte eléctrico se produjo a partir de medidas de conductividad eléctrica in situ. Los resultados indican que las películas delgadas de Sb2Te3 crecidas son amorfas y experimentan una transición amorfa-cristalina después del recocido, y el postratamiento puede promover eficazmente la formación del enlace Sb-Te y evitar la oxidación de la superficie de la película delgada.

• Materias:Electroquímica Energía solar Fotocatálisis Nanoestructuras Rayos ultravioleta
• Subjects:Electrochemistry Solar energy Photocatalysis Nanostructures Ultraviolet rays
• Palabras claves:películas delgadas, sb2te3, comportamiento anormal del transporte eléctrico, medidas de conductividad eléctrica in situ, microscopía de fuerza atómica, medidas de conductividad eléctrica, sustratos de vidrio calcáreo, espectroscopía de fotoelectrones de rayos, superficie de películas delgadas, medidas hall
• Keywords:thin films, sb2te3, abnormal electrical transport behavior, situ electrical conductivity measurements, atomic force microscopy, electrical conductivity measurements, lime glass substrates, ray photoelectron spectroscopy, thin film surface, hall measurements