El revestimiento antirreflectante (ARC) preparado mediante un proceso húmedo es beneficioso para la fabricación a bajo coste de células fotovoltaicas. En este estudio, hemos investigado las propiedades ópticas y las morfologías de los ARC de TiO2 recubiertos por rotación sobre obleas de silicio monocristalino con textura alcalina. Los espectros de reflectancia de los ARCs recubiertos por espinificación sobre obleas de silicio de textura alcalina no muestran interferencias y presentan bajos valores de reflectancia en todo el rango visible. Hemos modelado las estructuras de las películas con recubrimiento de espín para el cálculo numérico de trazado de rayos y hemos comparado los espectros de reflectancia calculados numéricamente con los resultados experimentales. Este es el primer informe que aclara las novedosas propiedades ópticas experimental y teóricamente. Las propiedades ópticas de los ARC con revestimiento de espín sin interferencia se deben a la no uniformidad fraccional del espesor de los ARC con revestimiento de espín que anula la interferencia de la luz incidente.
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