Resumen

Se prepararon películas delgadas de óxido de zinc de diferentes espesores, entre 100 y 300 nm, sobre sustratos de tereftalato de polietileno mediante evaporación térmica en un vacío de aproximadamente 3×10-5 Torr. Los patrones de difracción de rayos X confirman la correcta formación de fase del material. A partir de imágenes de microscopía de fuerza atómica (AFM), se descubrió que la rugosidad cuadrática media de la superficie de la película aumentaba a medida que aumentaba el espesor de la película. Las propiedades ópticas del ZnO sobre sustratos de PET se determinaron mediante el método de transmisión óptica utilizando un espectrofotómetro ultravioleta-visible. Los valores de brecha de banda óptica de las películas delgadas de ZnO disminuyeron ligeramente a medida que aumentaba el espesor de la película.

• Materias:Propiedades fisicoquímicas Polimerización Nanoestructuras Ingeniería de tejidos Sustancias macromoleculares
• Subjects:Chemicophysical properties Polymerization Nanostructures Tissue engineering Macromolecular substances
• Palabras claves:espesor de la película, valores de la brecha de banda óptica, películas delgadas de zno, microscopía de fuerza atómica, método de transmisión óptica, sustratos de tereftalato de polietileno, formación de fase adecuada, patrones de difracción de rayos, sustratos de pet, óxido de zinc
• Keywords:film thickness, optical band gap values, zno thin films, atomic force microscopy, optical transmission method, polyethylene terephthalate substrates, proper phase formation, ray diffraction patterns, pet substrates, zinc oxide