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Planar Sensor for Material Characterization Based on the Sierpinski Fractal CurveSensor planar para la caracterización de materiales basado en la curva fractal de Sierpinski

Resumen

Este artículo presenta un sensor resonador de microondas plano y compacto para caracterizar materiales. La geometría del resonador se basa en la curva fractal de Sierpinski y tiene cuatro polos en el rango de frecuencias de 0,5 GHz a 5,5 GHz. Cualquiera de los cuatro polos puede utilizarse para medir muestras con valores de permitividad bajos, mientras que el primer polo es adecuado para muestras con valores de permitividad altos. La sensibilidad de los polos y las pérdidas de retorno del sensor se presentan y obtienen utilizando un software simulador 3D de onda completa. El dispositivo se fabrica y se valida mediante una comparación entre los resultados simulados y los medidos.

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