Se sugiere un método de simulación para la adquisición de la función de respuesta espectral (SRF) del espectrómetro basada en la función de dispersión puntual (PSF) de Huygens. Teniendo en cuenta los efectos de las aberraciones ópticas y la difracción, el método puede obtener la curva fina de la SRF y el ancho de banda espectral correspondiente a cualquier longitud de onda nominal ya en la fase de diseño. Se propone un monocromador de prisma para ilustrar el procedimiento de simulación. A modo de comparación, también se proporciona un método geométrico de trazado de rayos, con desviaciones de ancho de banda que varían de 5
t 250 nm a 25
t 2400 nm. La comparación posterior con los experimentos realizados muestra que las áreas de los perfiles SRF coinciden en aproximadamente un 1%. Sin embargo, la débil luz de fondo dispersa en el nivel de 10-4 a 10-5 observada por el experimento no pudo ser cubierta por esta simulación. Este método de simulación es una herramienta útil para pronosticar el rendimiento de un espectrómetro mal diseñado.
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