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A Novel SFP Extracting/Tracking Framework for Rigid Microstructure MeasurementUn nuevo marco de extracción y seguimiento de SFP para la medición de microestructuras rígidas

Resumen

La medición 3D y la reconstrucción de microestructuras rígidas dependen de la coincidencia precisa de los puntos de características estructurales (SFP) entre imágenes microscópicas. Sin embargo, la mayoría de los algoritmos existentes fallan en la extracción y el seguimiento a microescala debido a la mala calidad de las imágenes microscópicas. Este artículo presenta un nuevo marco para la extracción y el emparejamiento de SFPs en imágenes microscópicas bajo dos modos de imagen microscópica estéreo en nuestro sistema, es decir, los modos estéreo de posicionamiento fijo y estéreo de rotación continua, respectivamente. Se desarrolla un sistema de medición microvisual de 4DOF (grados de libertad) para la medición estructural proyectiva en 3D de microestructuras rígidas utilizando los SFP obtenidos de imágenes microscópicas mediante el marco propuesto. En el modo estéreo de posicionamiento fijo, se diseña un algoritmo de estructura pictórica similar para preservar la invariancia de la iluminación en la correspondencia de las SFP, mientras que se desarrolla un método basado en el filtro de partículas con transformación afín para el seguimiento preciso de múltiples SFP en la secuencia de imágenes en el modo estéreo de rotación continua. Los resultados experimentales demuestran que los problemas de distorsión visual, variabilidad de la iluminación y estimación de movimiento irregular en el proceso de medición microvisual pueden resolverse eficazmente mediante el marco propuesto.

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