En este trabajo proponemos un nuevo procedimiento holográfico para el diagnóstico de grandes antenas reflectoras, basado en el uso directo del patrón del campo de Fresnel. La relación que lleva del campo de Fresnel a la corriente en la superficie del reflector se formula en el sentido de mínimos cuadrados como un problema inverso de datos discretos y luego se regulariza utilizando un enfoque de descomposición de valores singulares. Se proporciona un análisis teórico detallado del problema y una evaluación completa de la técnica presentada. Se realizan simulaciones utilizando el patrón de campo cercano radiativo generado con un software comercial. Los resultados muestran una buena precisión y robustez frente al ruido para la recuperación de la desalineación panel a panel de una antena reflectora.
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