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A Cell-Based Smoothed XFEM for Fracture in Piezoelectric MaterialsUn XFEM suavizado basado en células para la fractura en materiales piezoeléctricos

Resumen

Este artículo presenta un método de elementos finitos extendido y suavizado basado en celdas (CS-XFEM) para analizar fracturas en materiales piezoeléctricos. El método, que combina el método de elementos finitos suavizado basado en celdas (CS-FEM) y el método de elementos finitos extendido (XFEM), muestra las ventajas de ambos métodos. Las funciones de enriquecimiento de la punta de la grieta se derivan especialmente para representar las características del campo de desplazamiento y del campo eléctrico alrededor de la punta de la grieta en los materiales piezoeléctricos. Con la ayuda de la técnica de suavizado, la integración de las derivadas singulares de las funciones de enriquecimiento de la punta de la grieta se evita transformando la integración interior en integración de frontera. Esta es una ventaja significativa sobre el XFEM. Se presentan ejemplos numéricos para destacar la precisión del CS-XFEM propuesto con las soluciones analíticas y los resultados del XFEM.

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