La parte 600:2019 y la parte 700:2022 de la ISO 25178 introducen un marco de calibración basado en siete características metrológicas (CM) para la calibración de instrumentos ópticos de medición de superficie areal. Entre estas, la fidelidad de la topografía es una característica metrológica recién definida que sigue siendo un desafío crítico pero no resuelto en la calibración de instrumentos. Este documento propone estrategias para abordar la fidelidad de la topografía, incluyendo un criterio clave para seleccionar configuraciones de instrumentos adecuadas al comparar la capacidad de medición de pendientes con las pendientes locales de la superficie, así como métodos para investigar la homogeneidad del campo de visión y la diferencia de rendimiento direccional a lo largo de los ejes x e y. Además, se analiza la contribución de incertidumbre de la fidelidad de la topografía en las mediciones de topografía de superficie. El documento también determina la incertidumbre asociada con las seis CM restantes. Basado en el enfoque de calibración basado en CM propuesto y las correspondientes contribuciones de incertidumbre, se presenta un modelo general de incertidumbre de medición para y parámetros. Finalmente, se demuestran evaluaciones de incertidumbre para y en una superficie desafiante, donde la fidelidad de la topografía juega un papel significativo en la evaluación de la incertidumbre de medición.