La falsificación de circuitos integrados (CIs) ha sido un problema creciente. Los métodos actualmente disponibles para detectar CIs falsificados pueden ser costosos, imprecisos y llevar mucho tiempo. Este documento explora el sistema de cavidad resonante: un método no destructivo y sin contacto para diferenciar rápidamente los CIs falsificados de los auténticos. El sistema captura una firma única de un CI colocado dentro de él. Se capturaron datos de CIs de varias tecnologías y autenticidades. Los datos incluyeron valores de pérdida de retorno capturados en varios modos eléctricos transversales (TE) entre 2.8 GHz y 6 GHz. Esto permitió comparar la efectividad de los diversos modos TE para distinguir los CIs. El sistema de cavidad resonante pudo distinguir la mayoría de los CIs en modos TE más altos.