Los elementos de circuito de radiofrecuencia (RF) que tradicionalmente se consideran lineales a menudo exhiben propiedades no lineales que afectan el funcionamiento previsto de muchos otros sistemas de RF. Dispositivos como conectores RF, antenas, atenuadores, resistencias y uniones de metales disímiles generan distorsión no lineal que degrada el rendimiento del sistema RF principal. La industria de las comunicaciones se ve muy afectada por estas distorsiones no lineales no intencionadas e inesperadas. La alta potencia de transmisión y el estrecho espaciado de canales del canal de comunicación hacen que las comunicaciones sean muy susceptibles a la distorsión no lineal. Para minimizar la distorsión no lineal en los sistemas de RF, se requieren circuitos especializados para medir las distorsiones no lineales de bajo nivel creadas por dispositivos tradicionalmente lineales, es decir, conectores, cables, antenas, etc. Medir la distorsión no lineal de bajo nivel es un problema difícil. El sistema de medición requiere el uso de señales de sonda de alta potencia y la capacidad de medir distorsiones no lineales muy débiles. Medir la débil distorsión no lineal se vuelve cada vez más difícil en presencia de señales de sonda de mayor potencia, ya que la señal de sonda de alta potencia genera productos de distorsión en el sistema de medición. Este documento describe una arquitectura de diseño de circuito que logra 175 dB de rango dinámico, que se puede utilizar para medir la distorsión armónica de bajo nivel de varios elementos pasivos de circuito RF.