La curva de fuerza del microscopio de fuerza atómica (AFM) se ha utilizado ampliamente para determinar las propiedades mecánicas de los materiales debido a su alta resolución, que permite medir fuerzas muy bajas (piconewton) y distancias tan pequeñas como nanómetros. Sin embargo, a veces la curva de fuerza resultante obtenida del AFM es ligeramente diferente de las obtenidas de una curva de fuerza de nanoindentación más típica debido a la histéresis del piezoeléctrico del AFM. En este estudio se evaluaron las propiedades nanomecánicas de una capa tratada con poliéter éter cetona sulfonado (SPEEK) o con poliéter éter cetona desnudo (PEEK) mediante nanoindentación por AFM y un sistema de ensayo nanomecánico para sondear el posible error de las propiedades nanomecánicas calculadas debido a la histéresis piezoeléctrica del AFM. Los resultados mostraron que la histéresis piezoeléctrica del AFM causaba el error en las propiedades nanomecánicas calculadas de los materiales.