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Evaluación de la degradación en resinas adhesivas nanorrellenas mediante fluorescencia cuantitativa inducida por luz
El objetivo de este estudio era evaluar la degradación en resinas adhesivas comerciales de nanorrelleno dental mediante fluorescencia cuantitativa inducida por luz (QLF). Se seleccionaron tres adhesivos: Resina D/E (DR), Single Bond Plus (SB) y G-Bond (GB). Los adhesivos se mezclaron con porfirina para el análisis de QLF. Las muestras se prepararon dispensando los adhesivos mezclados en un molde flexible y polimerizándolos. A continuación, se realizó el análisis QLF de las muestras y se midieron los valores de porfirina (Simple Plaque Score y ΔR). Tras el termociclado de las muestras (5000 ciclos, de 5 a 55°C) para la degradación, las muestras se analizaron de nuevo por QLF. Los valores de porfirina se analizaron mediante una prueba t pareada con un nivel de confianza del 95 %. Se observó una reducción significativa del SPS en todos los grupos tras el termociclado. El ΔR disminuyó significativamente tras el termociclado, excepto el área ΔR30 del grupo SB. En general, los valores de porfirina disminuyeron tras el termociclado, lo que indica que la degradación de las resinas adhesivas puede medirse por el cambio del valor de porfirina. El método QLF podría utilizarse para evaluar la degradación de la resina adhesiva.
Autores: Tae-Young, Park; Sun-Jae, Kim; Hee-Jung, Kim; Byoung-Jin, Lee; Byung-Hoon, Kim; Yeong-Mu, Ko; Jeong-Bum, Min
Idioma: Inglés
Editor: Hindawi Publishing Corporation
Año: 2014
Disponible con Suscripción Virtualpro
Categoría
Licencia
Consultas: 9
Citaciones: Sin citaciones
Hindawi
Journal of Nanomaterials
Volume 2014, Article ID 671205, 6 pages
https://doi.org/10.1155/2014/671205
Tae-Young Park 1, Sun-Jae Kim 1, Hee-Jung Kim 2, Byoung-Jin Lee 3, Byung-Hoon Kim 4, Yeong-Mu Ko 4, Jeong-Bum Min 1
1 , Republic of Korea
2 , Republic of Korea
3 , Republic of Korea
4 , Republic of Korea
Academic Editor: Seunghan Oh
Contact: jnm@hindawi.com