Las técnicas modernas de microscopía electrónica (EM) se encuentran entre los métodos analíticos más versátiles y útiles para la caracterización morfológica, estructural y química de materiales de manera no destructiva. Tanto las técnicas de microscopía electrónica de barrido (SEM) como las de microscopía electrónica de transmisión (TEM), métodos analíticos esencialmente complementarios, son capaces de proporcionar información sobre la morfología superficial, la estructura y la composición química de los materiales, desde la escala micrométrica hasta la subatómica. La importancia de las técnicas de microscopía electrónica en la ciencia de materiales fue reconocida tempranamente por los investigadores del Instituto Jozef Stefan, poco después de su fundación en 1949, lo que llevó a la adquisición del primer microscopio electrónico de transmisión Carl Zeiss EM-8 en 1954. Durante los años siguientes, numerosos investigadores y directores del instituto dedicaron grandes esfuerzos a construir y desarrollar la infraestructura de investigación en EM en el instituto, junto con la experiencia especializada necesaria.