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Método de Par Trenzado para la Medición de la Resistencia Superficial de Pantallas de Haz a Temperatura Criogénica

Autores: Brunner, Kristóf; Krkoti, Patrick; Calatroni, Sergio; Barna, Dániel

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2024

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Acceso abierto

Artículo científico


Categoría

Gestión y administración

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 5

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
El método del resonador de par apantallado es una herramienta útil en la medición de componentes de aceleradores, como las pantallas de haz utilizadas en el Gran Colisionador de Hadrones (LHC), el LHC de Alta Luminosidad (HL) o aceleradores futuros. Puede medir las pérdidas resistivas en varios puntos de frecuencia al separar las pérdidas resistivas en la muestra de otras fuentes de pérdidas. Construimos un nuevo resonador para ser insertado en un imán dipolo superconductores (campo magnético máximo de 9.5 T) y para medir la resistencia superficial de las pantallas de haz, como las pantallas de haz del LHC recubiertas con carbono amorfo (a-C). El dispositivo puede medir la resistencia superficial a cualquier temperatura entre 4.2 K y 300 K, en el rango de frecuencia de 400 MHz a 1600 MHz. Realizamos las primeras mediciones de resistencia superficial de dos pantallas de haz recubiertas de a-C a 4.2 K y demostramos que la capa inferior de titanio de 200 nm a 400 nm más 50 nm de a-C solo tiene un efecto limitado en la resistencia superficial. Este primer resultado apoya la elección de este recubrimiento como base para la actualización de los imanes tripletes del HL-LHC. El resonador tendrá un papel importante en la caracterización de pantallas de haz de próxima generación, como una pantalla de haz con estructura superficial diseñada por láser (LESS). Se informarán por separado más mediciones de la pantalla de haz del LHC en presencia de campos magnéticos de hasta 9.5 T y a lo largo de todo el rango de temperatura.

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