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Un microscopio de efecto túnel de barrido de alta rigidez y precisión con barridos y desacoplamientos
Se propone una nueva estructura de cabezal de exploración para el microscopio de efecto túnel (STM), que presenta una alta precisión y rigidez en el escaneo. La estructura central consta de un escáner de tubo piezoeléctrico de tipo cuadrante (para exploraciones) alojado coaxialmente en un tubo piezoeléctrico con electrodos internos y externos únicos (para exploraciones). Están fijados en un extremo (llamado extremo común). Un eje hueco de tántalo está alojado coaxialmente en el tubo de exploración y están mutuamente fijados en ambos extremos. Cuando el escáner explora, su extremo libre llevará al eje a explorar y la punta, que está insertada coaxialmente en el eje en el extremo común, explorará un área más pequeña si la punta sobresale lo suficiente del extremo común. Se busca una exploración desacoplada de x e y para reducir la distorsión de la imagen, y la reducción mecán
Autores: Chen, Xu; Guo, Tengfei; Hou, Yubin; Zhang, Jing; Meng, Wenjie; Lu, Qingyou
Idioma: Inglés
Editor: Hindawi
Año: 2017
Disponible con Suscripción Virtualpro
Categoría
Licencia
Consultas: 7
Citaciones: Sin citaciones
Hindawi
Scanning
Volume , Article ID 1020476, 7 pages
https://doi.org/10.1155/2017/1020476
Chen Xu1, Guo Tengfei2, Hou Yubin2, Zhang Jing2, Meng Wenjie2, Lu Qingyou2
Sino-German Engineering College China, Anhui Province Key Laboratory of Condensed Matter Physics at Extreme Conditions China, Hefei National Laboratory for Physical Sciences at Microscale ChinaAcademic Editor: Yoshimura Masamichi
Contact: @hindawi.com