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Propiedades de acoplamiento y apantallamiento del deflector en el sistema ICP

Autores: Jozef, Brcka; R. Lee, Robison

Idioma: Inglés

Editor: Hindawi Publishing Corporation

Año: 2011

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Acceso abierto

Artículo científico


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 10

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Esta contribución trata de la evaluación experimental y computacional del deflector de deposición que es transparente a los campos magnéticos de radiofrecuencia (RF) generados por una antena externa en una fuente de plasma acoplado inductivamente (ICP) pero opaco a la deposición del metal sobre una pared dieléctrica en un sistema de deposición física en fase vapor ionizado (IPVD). Se discuten varios aspectos de ingeniería relacionados con el deflector de deposición. Entre los muchos requisitos se centra en la estructura específica de las ranuras y el análisis para minimizar la deposición en el deflector (utilizamos un modelo de cuerda para simular la evolución del perfil) y la deposición a través del DB en los componentes dieléctricos de la fuente ICP. La transparencia del deflector a los campos magnéticos de RF se calcula utilizando un solucionador de campos electromagnéticos tridimensional (3D). Se utiliza un modelo simple de vaina bidimensional para comprender las interacciones del plasma con la estructura de ranuras de la DB. Se discuten brevemente el rendimiento y los posibles fallos del dispositivo.

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