El documento propone un enfoque novedoso para evaluar la integridad de los Sistemas de Aislamiento Eléctrico (EIS) mediante la evaluación de la respuesta del Análisis de Firma de Voltaje Transitorio (VSA) a inversores de fuente de voltaje correlacionados con cambios en la Capacitancia de Aislamiento (IC). Las estructuras de modelo involucradas se derivan de la estimación in situ de parámetros de red RLMC electromagnética de alta frecuencia. Se combinan diferentes fenómenos físicos, como efectos inductivos y capacitivos, así como efectos de piel y proximidad. Para tener en cuenta estos fenómenos, utilizamos un enfoque basado en circuitos eléctricos de línea de transmisión múltiple equivalentes con parámetros distribuidos (R: resistencias, L, M: inductancias propias y mutuas, y C: capacitancias) que son dependientes de la frecuencia. Utilizando el método de elementos finitos, primero se realizan los parámetros de capacitancia de vuelta a tierra y de vuelta a vuelta resolviendo un modelo electrostático con un enfoque de potencial eléctrico flotante, y en segundo lugar, se calculan la resistencia y las inductancias propias/mutuas a partir de las ecuaciones de densidad de corriente magneto-armónica fuertemente acopladas y de corriente total, incluyendo las densidades de corriente de conducción y de desplazamiento. La sensibilidad de las capacitancias se mide de acuerdo con el grosor del aislamiento, y se adoptan las propiedades dieléctricas para probar los escenarios de orden de degradación del EIS y comparar sus dominios de tiempo y frecuencia del comportamiento de la forma de onda de voltaje transitorio con respecto a los sistemas de aislamiento evaluados como saludables.