Este artículo de revisión ofrece un examen exhaustivo de los diversos tipos de fallas que ocurren en los inversores y los métodos utilizados para su identificación. El segmento introductorio investiga las fallas de componentes internos de los inversores de fuente de voltaje (VSI), examinando sus tasas de falla y los efectos consecuentes en el rendimiento general del sistema. Posteriormente, este artículo clasifica y aclara los posibles malfuncionamientos en componentes y sensores, haciendo especial hincapié en su frecuencia de ocurrencia y la gravedad de su impacto. El examen abarca problemas asociados con transistores, incluidos circuitos abiertos, cortocircuitos, anomalías en el disparo de puertas, así como fallas en capacitores, diodos y sensores. A continuación, el artículo ofrece una evaluación comparativa de las técnicas de diagnóstico de fallas pertinentes a cada tipo de componente, evaluadas según criterios específicos. La sección de conclusión resume los hallazgos para cada categoría de falla, delinea las metodologías de detección y diagnóstico de fallas (FDD), analiza los resultados y proporciona recomendaciones para futuras investigaciones académicas.