El uso de matrices de puertas programables en campo basadas en SRAM en detectores de física de altas energías está mayormente limitado por la sensibilidad de estos dispositivos a los errores inducidos por radiación en su configuración. Estos efectos pueden alterar la funcionalidad hasta la próxima reconfiguración del dispositivo. En este trabajo, presentamos las pruebas de radiación de un enlace serial de alta velocidad endurecido por un nuevo limpiador personalizado diseñado para FPGAs de Xilinx. Comparamos el rendimiento de nuestro limpiador con el controlador de Mitigación de Eventos Únicos (SEM) de Xilinx y medimos el impacto de los limpiadores en la fiabilidad del enlace. Nuestros resultados muestran que nuestro limpiador puede mejorar la fiabilidad hasta 23 veces en comparación con el SEM.